Tecnologia e Ciência dos Materiais Aplicados à Construção II

Carga horária:

45 h

Créditos:

3

Ementa:

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Fundamentos de Raios X, Análise Química (FRX, espectroscopia atômica), Espectroscopia de infravermelho, Difração de raios X (análise quantitativa), Análises Térmicas, Propriedades Físicas (densidade, distribuição do tamanho de partículas, área superficial), Microscopia óptica, Microscopia eletrônica de varredura (EDS). Projeto de experiências.

Bibliografia recomendada:

1. Elements of X-ray Diffraction. Addison-Wesley, Reading, Mass, 1956.

2. Introduction to X-ray , Powder Diffractometry

3. The Rietveld Method

4. Basic Infrared Spectroscopy Heyden & Son ltd. 1972 

5. “Handbook of thermal analysis of constrution material”, Noyes Publications, New York, 2002.

6. Concreto: Ensino, Pesquisa e Realizações. São Paulo: IBRACON, 2005. Vol1 , vol2.

7. Adsorption of gases in multimolecular layers. Journal of the American Chemical Society. 60, 309-319, 1938.

8. MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA Aplicações e preparação de amostras

9. Optical Microscopy of Materiais, International textbook Company, Glasgow, 1984

10. An introduction to the Optical Microscope, Royal Microscopy Society – Microscopy handbooks. Oxford Science Publications, 1989.


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